近年來，科學家們已明確指出出現(xiàn)的基因突變（即新生突變）導致大約三分之一的自閉癥譜系障礙（autism spectrum disorder, ASD）病例。在一項新的研究中，來自美國加州大學圣地亞哥分校等研究機構(gòu)的研究人員發(fā)現(xiàn)了一類新的罪魁禍首：非編碼DNA區(qū)域中發(fā)生的罕見的遺傳性變異，它們可能解釋著余下風險因素（即除新生突變之外的風險因素）中的一些。

這些新發(fā)現(xiàn)的風險因素與已知的自閉癥遺傳原因有兩種重要的不同之處。首先，這些遺傳性變異并不直接改變基因，而是破壞打開和關(guān)閉基因的DNA控制元件，即順式調(diào)控元件（cis-regulatory element, CRE）。其次，這些遺傳性變異不是作為自閉癥兒童的新突變發(fā)生的，而是從他們的父母遺傳下來的。

加州大學圣地亞哥分校醫(yī)學院的Jonathan Sebat教授說，“十年來，我們已知道自閉癥的遺傳原因部分上是由基因編碼的蛋白序列發(fā)生的新生突變。但是，基因序列僅占基因組的2％。”

為了研究ASD患者基因組中剩下的98％的DNA序列，Sebat和他的同事們分析了來自2600個家庭的9274名受試者的完整基因組。在圣地亞哥的人類長壽公司（Human Longevity Inc.）和Illumina公司測序了一千名受試者的基因組序列，并在加州大學圣地亞哥分校的圣地亞哥超級計算中心分析了這些被測序出的DNA序列。這些數(shù)據(jù)隨后與來自Simons Simplex Collection自閉癥數(shù)據(jù)庫和Autism Speaks MSSNG全基因組測序項目（Autism Speaks MSSNG Whole Genome Sequencing Project）的其他大型研究相結(jié)合在一起。

這些研究人員隨后分析了結(jié)構(gòu)變異（structural variant, SV）：缺失的或重復的DNA片段，這些片段的缺失或重復破壞了基因的順式調(diào)控元件（CRE），因而這些結(jié)構(gòu)變異被稱作CRE-SV。這些研究人員從完整的家族基因組中發(fā)現(xiàn)從父母中遺傳的CRE-SV也會促進ASD產(chǎn)生。

論文共同作者、加州大學圣地亞哥分校Sebat實驗室博士后研究員William M. Brandler博士說，“我們還發(fā)現(xiàn)CRE-SV主要遺傳自父親，這是令人吃驚的。之前的研究已發(fā)現(xiàn)一些蛋白編碼變異（即編碼蛋白的基因發(fā)生的變異）主要遺傳自母親，這種現(xiàn)象被稱為母本起源效應（maternal origin effect）。我們發(fā)現(xiàn)非編碼變異（即基因組中非編碼DNA發(fā)生的變異）存在的父本起源效應（paternal origin effect）提示著母親和父親的遺傳貢獻可能存在著本質(zhì)上的差異。”

Sebat說，當前的研究并沒有確切地解釋是什么機制決定了這些親源效應（parent-of-origin effect），不過他提出了一種合理的模型。

他說，“人類存在著廣泛的遺傳變異，其中編碼變異（coding variant）具有較強的效應，而非編碼變異（noncoding variant）具有較弱的效應。如果男性和女性對這些變異的耐受性存在著差異，那么這可能會產(chǎn)生我們觀察到的這些親源效應