什么是失效分析?失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開發(fā)、改進(jìn)，產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義。其方法分為有損分析，無損分析，物理分析，化學(xué)分析等。
為什么要進(jìn)行失效分析?失效分析檢測目的：
1、明確潛在失效機(jī)理、查找失效根本原因、確定失效薄弱環(huán)節(jié)，為改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計，選材等提供依據(jù)。
2、通過失效機(jī)理分析還可以預(yù)測可靠性，起到技術(shù)反饋?zhàn)饔谩?/p>
3、在提高產(chǎn)品質(zhì)量、技術(shù)開發(fā)、產(chǎn)品改進(jìn)、產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義。
廣電計量失效分析檢測能能力
廣電計量集成電路測試與分析事業(yè)部是國內(nèi)的半導(dǎo)體質(zhì)量評價與可靠性提升方案技術(shù)服務(wù)提供方。廣電計量投入300多臺檢測分析設(shè)備，形成以博士、專家為核心的人才隊伍，打造8個專項實(shí)驗室及1個功能安全認(rèn)證中心，為裝備制造、汽車、電力電子與新能源、5G通信、光電器件與傳感器、軌道交通與材料、晶圓廠等領(lǐng)域企業(yè)提供專業(yè)的失效分析、晶圓級制造工藝分析、元器件篩選、可靠性測試、工藝質(zhì)量評價、產(chǎn)品認(rèn)證、壽命評估等服務(wù)，幫助企業(yè)提升電子產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性。
專項實(shí)驗室及認(rèn)證中心 | 重點(diǎn)能力 |
AEC-Q車規(guī)元器件 | AEC-Q100/101/102/103/104/200全項目認(rèn)證 |
IGBT及第三代 | 功率器件逆向工程與案例分析 |
晶圓級工藝及材料 | 4nm及以上芯片制程晶圓級制造工藝分析 |
集成電路測試 | 集成電路工程化測試開發(fā) |
集成電路篩選 | 集成電路CP/FT/量產(chǎn)測試開發(fā)和導(dǎo)入 |
封裝組裝及DPA實(shí)驗室 | 電子元器件破壞性物理分析 |
電子電氣檢測與驗證實(shí)驗室 | 電子電氣功能、性能測試 |
服役評估實(shí)驗室 | 器件、零部件壽命評估 |
功能安全認(rèn)證中心 | ISO26262功能安全ASFP培訓(xùn) |
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