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手持式表面銅厚測(cè)厚儀

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產(chǎn)品型號(hào)CMI563

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更新時(shí)間：2018-05-16 15:15:27瀏覽次數(shù)：575次

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深圳市鼎極天電子有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

CMI563系列表面銅厚測(cè)試儀專為測(cè)量剛性或柔性、單層、雙層或多層印刷電路板上的表面銅箔厚度設(shè)計(jì)

詳細(xì)介紹

CMI563系列表面銅厚測(cè)試儀專為測(cè)量剛性或柔性、單層、雙層或多層印刷電路板上的表面銅箔厚度設(shè)計(jì)。

CMI563采用微電阻測(cè)試技術(shù)，提供了準(zhǔn)確和精確測(cè)量表面銅銅厚（包括覆銅板、化學(xué)銅和電鍍銅板）的方法。由于采用了市場(chǎng)上zui為*的測(cè)試技術(shù)，印刷電路板背面銅層不會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果產(chǎn)生影響。

創(chuàng)新性的CMI563銅箔測(cè)厚儀配置探針可由用戶自行更換的SRP-4探頭。相對(duì)于整個(gè)探頭的更換，更換探針更為方便和經(jīng)濟(jì)。

CMI563可由用戶選擇所測(cè)試的銅箔類型，既化學(xué)銅或電鍍銅；甚至無需用戶校準(zhǔn)，即可測(cè)量線形銅箔厚度。NIST（美國國家標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)學(xué)會(huì)）認(rèn)證的校驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)片有不同厚度可供選購。

技術(shù)參數(shù)

CMI563便攜式面銅測(cè)厚儀規(guī)格說明：

準(zhǔn)確度：±1% (±0.1 μm)參考標(biāo)準(zhǔn)片

精確度：非電鍍銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.2 %；

電鍍銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.5 %

分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,

0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm

銅厚測(cè)量范圍：

非電鍍銅：10 μin – 500 μin (0.25 μm – 12.7 μm),

電鍍銅：0.1 mil – 6 mil (2.5 μm – 152 μm)

線形銅可測(cè)線寬范圍：8 mil – 250 mil (203 μm – 6350 μm)

存儲(chǔ)量：13,500條讀數(shù)