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質譜儀掃描模式歸納 質譜儀使用方法
閱讀：8 發布時間：2025-1-4 質譜儀在現今科研領域有著越來越多的運用，而質譜儀具體有哪些掃描模式以及每種掃描模式有什么不同。常見質譜儀的掃描模式有全掃描(Full Scan)、選擇離子掃描(SIM)、子離子掃描(Product Scan)、母離子掃描(Precursor Scan)、中性碎片丟失掃描(Neutral Loss)和多反應掃描(MRM)等。
1.全掃描(Full Scan)：這一掃描模式一般用于未知化合物定性分析。掃描的質量范圍覆蓋被測化合物的分子離子和碎片離子的質量，得到的是化合物的全譜，可以進行譜庫檢索。
2.單粒子檢測掃描(SIM)：這一掃描模式主要用于化合物檢測和復雜混合物中雜質的定量分析。這一掃描模式不是連續掃描某一質量范圍，而是跳躍式地掃描某幾個選定的質量，得到的不是化合物的全譜。
3.子離子檢測掃描(Product Scan)：這一掃描檢測模式主要用于化合物結構分析。利用質量分析器固定掃描電壓，選擇某一質量的母離子進入碰撞室，與碰撞室內的碰撞氣體發生碰撞誘導裂解，另一個質量分析器進行全掃描，得到的所有碎片離子都是由選定的母離子產生的子離子。
4.母離子檢測掃描(Precursor Scan)：這一掃描檢測模式主要用于同系物分析。質量分析器選擇母離子進入碰撞室，與碰撞室內的碰撞氣體發生碰撞誘導裂解，另一個質量分析器固定掃描電壓，只選擇某一特征離子質量掃描，該特征離子是由所選擇的母離子產生的，由此得到所有能產生該子離子的母離子質譜。
5.中性碎片丟失檢測掃描(Neutral Loss)：這一檢測掃描模式主要用于中性碎片分析。質量分析器選擇所有離子進入碰撞室，與碰撞室內的碰撞氣體發生碰撞誘導裂解，第二個質量分析器以與前者固定質量差聯動掃描，檢測丟失該固定質量中性碎片的離子對，得到中性碎片質譜。即質量分析器掃描產生中性丟失的母離子，另一個質量分析器掃描丟失了中性碎片的子離子。
6.多反應檢測掃描(MRM)：這一檢測掃描模式主要用于化合物定量分析。質量分析器選擇一個或多個特征離子進入碰撞室，與碰撞室內的碰撞氣體發生碰撞誘導裂解，另一個質量分析器進行選擇離子掃描，只有符合特定條件的離子才能被檢測到。
以上是常見質譜儀的掃描模式，歸納也許不夠全面，歡迎補充。 質譜儀中的離子源怎么清洗？
1、降低接口溫度、離子源溫度、四極桿溫度(以四極桿質譜儀為例)，關閉質譜儀電源。
2、打開卸壓閥，緩慢卸壓到常壓。
3、打開離子源艙門(此步驟開始佩帶口罩以及不掉毛手套)。
4、使用專用工具按照拆卸步驟將離子源整體取出放置在的清洗臺面。
5、使用專用工具將離子源各部件一一拆開，分類整齊放置在清洗臺面，不需要拋光打磨的部件(如加熱快、絕緣體等)分開放置。(此后可脫掉手套)
6、將一定量的專用氧化鋁粉放入100ml燒杯中，加入甲醇，剛好覆蓋為好。
7、使用專用棉簽蘸上濕潤的氧化鋁粉輕輕打磨推斥極、離子源體、透鏡等金屬部件，直至光亮為止，注意不要過于用力造成部件表面出現明顯劃痕。
8、可先使用自來水沖洗打磨部件，再使用甲醇將氧化鋁粉充分沖洗干凈。
9、將離子源所有部件(除了燈絲、加熱電纜等外)放置于適當燒杯中，加入甲醇蓋過，超聲5~10分鐘。
10、超聲后換一個燒杯放置部件，然后在烘箱中70度烘烤30分鐘，待干燥后冷卻至室溫。
11、(佩帶潔凈不起毛手套)將干燥并冷卻后的部件放置到一塊新的潔凈無紡布上面，分類放置。
12、使用專用工具將各部將一一組裝起來。
13、將組裝好的離子源安裝到質譜儀上。