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BIM知識課堂:Western化學發光檢測常見問題

2016-10-25  閱讀(2608)

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底物化學發光ECL是Western blotzui常用的顯色方法之一,其原理是辣根過氧化物酶在H2O2的作用下,氧化化學發光物魯米諾(Lumino)并發光,在化學增強劑存在下光強度可以增大1000倍,通過在照相底片上感光就可以檢測辣根過氧化物酶的存在。

Fig:ECL發光檢測原理示意圖


ECL法具有操作簡單,靈敏度高,線性范圍廣等特點,現將該方法使用中zui常出現的問題以及解決方法匯總如下:

現象原因解決辦法
信號弱或無HRP過高引起底物迅速耗竭稀釋一抗/二抗
抗體-抗原系統敏感性過低提高抗體濃度/蛋白上樣量
轉膜不充分/過轉優化轉膜條件
HRP或底物活性降低測試活性或選用敏感底物
高背景HRP過高(背景較高)稀釋一抗/二抗
封閉時間不足延長封閉時間4度過夜
抗體與封閉液有交叉更換封閉液(如3% BSA的TBST)
TBST洗脫不足增加洗脫時間、次數、用量
曝光時間過長降低曝光時間
抗原-抗體濃度過高降低抗體濃度或蛋白上樣量
條帶內無顯影的白點轉膜不良(如有氣泡在膠-膜之間)精細操作
膜平衡不均/油脂污染按說明書平衡膜/戴手套用平頭鑷子持膜
膜與X光片間有氣泡顯影前去除氣泡
非特異性條帶抗體交叉反應稀釋一抗/二抗
散在小圓斑封閉液有雜質顆粒靜置牛奶使大顆粒沉淀,僅用上層
反影(白色條帶,黑色背景)HRP過高(背景較高)稀釋一抗/二抗
顯影后膜上條帶處變為黃色HRP過高(敏感性太高)稀釋一抗/二抗


上海勁馬實驗設備有限公司試劑盒產品特點:

⇒ 高靈敏度的非放射性檢測系統:可檢測低至100fg~1pg的抗原,適用于痕量抗原的檢測。

⇒ 高分辨率:本底極低,即使長時間曝光,背景仍然極低,遠遠優于國產與進口同類產品。

⇒ 半衰期長:信號衰減慢,12個小時以上仍可感光X光膠片。

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