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廣州昌利信科學儀器有限公司
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日立X-Strata920鍍層測厚儀
使用X射線熒光（XRF）進行的鍍層厚度測量是經過證明的快速的無損分析技術，X-Strata920設計為面向電子產品和金屬表面 處理，測量單層和多鍍層（包括合金層），應用專家對 X-Strata920 進行了進一步升級， 確保獲得可靠、可重復結果，滿足數百種應用，包括 PCB 表面處理、連接器鍍層、耐腐蝕處理、裝飾表面 處理、耐磨損處理、耐高溫處理等。
日立X-Strata920鍍層測厚儀
使用X射線熒光(XRF)進行的鍍層厚度測量是經過證明的快速的無損分析技術，X-Strata920設計為面向電子產品和金屬表面 處理，測量單層和多鍍層(包括合金層)，應用專家對 X-Strata920 進行了進一步升級， 確保獲得可靠、可重復結果，滿足數百種應用，包括 PCB 表面處理、連接器鍍層、耐腐蝕處理、裝飾表面 處理、耐磨損處理、耐高溫處理等。
X-Strata920這一出色的工具可確保樣品符合規格，同時通過避免過度電鍍和返工來降低成本。操作員只需加載樣品，將其定位在屏幕上的目標下方，使用激光焦點對齊，即可開始測量。結果在幾秒內即可顯示出來，然后操作員可快速執行下一個任務。得益于通過可追溯標準打造的優化校準方式，您將對結果的準確性充滿信心。
使用X-Strata920可遵從各種行業規范，如IPC-4552A、ISO 3497、ASTM B568 和 DIN 50987。
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