萬深SC-X型小麥外觀品質分析、面粉麩星檢測儀

小麥品質自動4分類分析結果標記圖

面粉麩星砂石分類檢測結果標記圖

1．萬深SC-X型小麥品質分析和面粉麩星檢測儀用途：快速測量小麥的粒數、千粒重、粒形、霉變率、赤霉率、黑胚率、破損率等，面粉的麩星、砂石的大小和含量。用于實驗室快速檢測獲得批處理數據（包括小麥粒數、千粒重、籽粒形狀、籽粒整齊度或飽滿度、籽粒顏色、霉變率、赤霉率、黑胚率、破損率等；面粉的麩星、砂石的大小和含量）。小麥品質檢測方法符合GB5504-85《糧食、油料檢驗小麥加工精度檢驗法》、GB/T 27628-2011《糧油檢驗 小麥粉粉色、麩星的測定》中的小麥粉麩星測定方法。

2．萬深SC-X型小麥品質分析和面粉麩星檢測儀儀器特點：儀器由光學成像系統、智能分析軟件、220g量程1mg精度電子天平組成。系統具有的自學習能力，實現人性化的一鍵式智能分析，并可交互修正個別的分類錯誤點，以達到*正確分類結果。該分析系統能大批量處理，自動分析300個以上小麥和面粉樣品的圖像。由專業軟件分析成像后的彩色圖像，準確、快速地測定小麥的粒數、千粒重、籽粒形狀、籽粒整齊度、籽粒飽滿度（即：可按面積自動排序及輸出）、籽粒顏色、霉變率、赤霉率、黑胚率、破損率等指標，以及面粉中的麩星粒數和大小、麩星面積比和對應的砂石占比。軟件能讓用戶實時看到真實樣品分析過程情況，并交互修正；當面粉指標偏離設定參數時，可報警顯示；用戶可隨意查詢檢測結果，并打印。所有測試圖像分析結果和數據可在電腦上顯示并保存。樣品數據準確可靠，結果穩定、重復性高。

3．主要性能指標*：

l  zui大分析面積：小麥為A4紙幅面；面粉為35mm×35mm

l  測量時間：小麥≤2分鐘/樣品；面粉≤1分鐘/樣品視野。

l  小麥千粒重測量誤差≤±0.5%

l  外觀品質兩次掃描單面分析的重復性誤差≤±2.0%

l  可接入條碼槍來自動刷入樣品編號，分析結果可對應樣品編號輸出至EXCEL表，分析圖像標記結果可保存。

4．儀器規格配置：

　　帶RS232線電子天平（220g量程、1mg精度）1臺，LED光源、zui高光學分辯率4800×9600dpi彩色掃描儀1臺，單筒體視顯微鏡+300萬像素相機1套、微型手動移動平臺1套，小麥外觀品質分析、面粉麩星檢測軟件光盤1張（含電子版操作手冊）、軟件鎖1只，籽粒收納盤1個，緊粉用面粉成像小盤1付。（電腦需另配）

　　 儀器總尺寸、總重量：寬×深×高約50cm×40cm×12cm，～13kg。

5．環境條件：

溫度10~30℃，相對濕度≤85%，防止強光照射。儀器應放在平穩工作臺上，周圍無強烈的機械振動和電磁干擾；電源要求220V±10%，50Hz。

選配電腦*: 臺式機電腦（i5以上CPU /8G內存/含支持CUDA的GPU（如：GTX1060、GTX1070）/128G以上硬盤/DVD刻錄/ 23”彩顯，5個以上USB接口，64位的Windows 7完整專業版或完整旗艦版），該電腦價約0.7-1萬