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PCB-BiasHAST測試

（高加速溫濕度偏壓壽命測試）是針對印刷電路板（PCB）組裝件在高溫、高濕、高壓且通電狀態下的可靠性驗證方法，專門評估潮濕環境+電場應力對PCB材料、銅箔、焊點及元器件的協同破壞效應。

PCB-BiasHAST測試

測試核心目的

暴露電化學失效

• 評估PCB在濕熱偏壓下的導電陽極絲（CAF）形成（相鄰導體間離子遷移短路）

• 檢測銅箔腐蝕、焊點電化學遷移（ECM）

• 驗證基材吸濕性（如FR4的CTE變化導致分層）

  模擬嚴苛工況

• 車規電子（引擎艙）、戶外設備、高濕度工業環境下的長期可靠性

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PCB-BiasHAST是識別潮濕環境偏壓工作下系統性失效的核心手段，尤其對高速、高密度、車規級PCB不缺。成功關鍵點：
? 精準偏置：聚焦CAF高危區域的zui大電壓差
? 材料管控：選用CAF抗性基材與低吸濕涂層
? 失效分析：切片+SEM鎖定CAF/腐蝕微觀證據
通過此測試可顯著提升PCB在濕熱惡劣環境下的服役壽命，避免現場大規模失效。

特點：

高機能：采用gao端驅動計測，測試時焊接工序大幅減少

軟件設計簡單明了，直觀易操作

遠程監控功能，可監控試驗過程

便利性高：構造裝著脫落式、易進行保養交換。可同時試驗停止等聯動裝置功能，系統構成靈活

測試自檢功能：點檢、校正方便

設計精巧，不受場所限制，易移動

可靠性高：配有CF卡，以防設備故障數據丟失。以UPS作為系統的支撐，保證試驗的安全繼續進行。

應用：

PCB、焊料、助焊劑、涂層材料等，GBA、DSP等，IC封裝、電容器、連接器等電子器件及材料絕緣材料吸濕特性測試評估。

技術規格：