電化學活性是材料的重要性質之一，常規電化學方法只能獲得整個樣品表/界面上平均的電化學信息，不能反映其時間和空間的分布狀態和微尺度相互作用機制和過程。CORROSCAN 22微區電化學測試系統實現了整機零部件全部國產化，能夠為用戶提供材料樣品表/界面體系中電化學物質種類及其分布、電化學動態過程等研究的原位高分辨表征手段。幾乎所有微區電化學特征（如電流、電壓、pH、離子/分子的濃度分布等）都可以通過其中的SECM、SVP、SIET和SPT等進行量化，微陰極和微陽極可由掃描振動電極（SVET）定位和量化。

檢測技術：掃描電化學顯微鏡（SECM）、掃描振動電極技術（SVET）、掃描離子探針技術（SIET）、掃描分子探針技術（SPET）、掃描電壓探針技術（SVP）

主要功能：電流密度測試、電流密度分布測試、離子濃度分布測試、離子電流測試、分子濃度分布測試、電位分布測試、電流分布測試、

技術參數：

1.1 掃描平臺及控制系統

(1) 掃描范圍(X、Y、Z)：25 mm ×25 mm ×25 mm

(2) 掃描速率：2 - 1000 μm/s

(3) 空間分辨率：≤ 1 μm

(4) 振動幅度：0 - 100 μm

(5) 掃描模式：線掃描、面掃描

(6) USB 通信

1.2 電化學測量模塊(SECM、SPT)  

(1) 具有相位檢測器和差分放大器

(2) 偏置電流：1 pA

(3) 極化電壓及分辨率：±10 V/1 mV

(4) 電流分辨率：0.1 pA

(5) 電流量程：±100 mA

(6) 測量精度：±0.2%

(7) 頻率范圍：0.001 Hz - 10 KHz

(8) ADC 分辨率：24 bit

(9) 探針種類：電流、電位、Fe、Co、Ni、Cr、Sn、Pb、W、Mo、O₂等

1.3 表面離子濃度測量模塊(SIET)

(1) 探針直徑：≤10 μm

(2) 探針種類：Cl-、Zn2+、Mg2+、Cu2+、Al3+、Cr3+、Pb2+、Ag+、H+等

1.4 電流密度測量模塊(SVET)  

(1) 探針直徑：≤ 10 μm

(2) 靈敏度：≤1 μA/cm²

1.5 表面電位測量模塊(SVP)

(1) 探針直徑：≤10 μm

(2) 靈敏度：≤0.1 μV

1.6 探針定位監測顯微鏡

(1) 攝像頭：彩色 CCD

(2) 像素： ≥1000 萬

(3) USB 通信

主要應用：表面電化學活性成像、材料表面/界面的氧化還原活性、電化學過程實時監測、涂層效果分析、緩蝕劑評價、離子/分子吸附/脫附/溶解過程、微區反應動力學