JEOL可移動式掃描電子顯微鏡JCM-5700產(chǎn)品詳細(xì)介紹
JEOL可移動式掃描電子顯微鏡JCM-5700是一臺生產(chǎn)現(xiàn)場-研究室用SEM，氯魏蔚胤蕉伎梢允褂玫母咝閱蕓梢貧絊EM 。
運(yùn)行成本低(長時間不用維護(hù))，檢查項(xiàng)目-研究題目等各項(xiàng)條件均可記憶，任何人都可以得到良好結(jié)果的高度再現(xiàn)性。可以設(shè)定獨(dú)立的操作條件，使用更加自由的MY SEM。
輕松獲得幾萬倍的圖像，簡單友好的操作界面，儀器啟動僅需3分鐘。與光學(xué)顯微鏡和激光顯微鏡的比較，掃描電子顯微鏡（SEM)與光學(xué)顯微鏡和激光顯微鏡相比，具有焦距更深，分辨率更好的特點(diǎn)。相反，得不到象光學(xué)顯微鏡那樣獲得的純自然光澤。我們利用掃描電子顯微鏡的主要特點(diǎn)，可以廣泛應(yīng)用于科研和生產(chǎn)。
掃描電子顯微鏡的與光學(xué)顯微鏡和激光顯微鏡的比較
光學(xué)顯微鏡＜樣品: 印刷基板＞ 掃描電子顯微鏡 JCM-5700
鮮明的SEM圖像上進(jìn)行高精度測量
從極低倍到高倍，在圖像上就可以直接進(jìn)行長度和角度測量，即在鮮明的圖像上進(jìn)行高精度測量。保存后的圖像也可以用SMile View軟件（選購件）打開并進(jìn)行測s。
3D觀察-測量（選購）
利用掃描電子顯微鏡焦深大的特點(diǎn)，可以進(jìn)行立體的高度測量。同一個視野，傾斜角度改變10°左右，獲得兩張圖像，進(jìn)行高度測s。
不僅可以觀察圖像，還可以進(jìn)行成分分析
不僅可以利用二次電子信息進(jìn)行樣品表面觀察，還可以利用背散射電子成份襯度像進(jìn)行異物及多層膜觀s。另外，還可以使用能量分散型光譜儀（EDS）進(jìn)行元素分析。日本電子產(chǎn)能譜儀JED-2300可以與主機(jī)實(shí)現(xiàn)一體化，將點(diǎn)鏡擴(kuò)展為分析型點(diǎn)鏡。
