掃描電子顯微鏡在金屬腐蝕與防護研究中的應用實例
掃描電子顯微鏡（SEM）廣泛應用于材料、醫學、地質、生物、考古、石油、刑偵、造紙、紡織等研究領域。由于操作方便，制樣簡單，景深大，成像富有立體感，SEM已成為表面分析...
日立透射電子顯微鏡H-9500型300kV透射電子顯微鏡以其優秀的穩定性、應用性能及可靠性滿足近十年來的科研團體的嚴格要求。300kV透射電子顯微鏡H-9500繼承了這些優點，又采用了一些技術，實現了計算機控制和數字圖像，易于操作。可以獲得高質量的原子分辨率圖像，是材料研究領域的工具。
日立透射電子顯微鏡H-9500型的性能指標
1)分辨率
線分辨率：0.10nm
點分辨率：0.18nm
2)技術電壓
加速電壓：300 kV, 200kV, 100kV
最小電壓步長：100V
高壓應用：3分鐘以內 (從0 kV 到300 kV)
高壓穩定度：3 x 10-6/分鐘
3)放大倍率/相機長度
低倍模式：200x - 500x (3 步)
普通模式：1,000x - 1,500,000x (30 步)
選區模式：4,000x - 500,000x (22 步))
衍射模式：(DIFF)0.25 - 3.0m
