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廣電計量檢測集團股份有限公司

雙束掃描電子顯微鏡檢測CMA/CNAS認可

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱廣電計量檢測集團股份有限公司
  • 品       牌廣電計量
  • 型       號微觀分析
  • 所  在  地廣州市
  • 廠商性質工程商
  • 更新時間2025/3/19 12:41:03
  • 訪問次數1969
產品標簽:

電子顯微鏡檢測

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廣電計量檢測集團股份有限公司(簡稱:廣電計量)始建于1964年,于2019年11月8日登陸中小企業板, 于2019年上市,是廣州無線電集團旗下的第三家A股上市公司。

廣電計量是原電子602計量站,經過50余年的發展,現已成為一家全國化、綜合性的國有第三方計量檢測機構,專注于為客戶提供計量、檢測、認證以及技術咨詢與培訓等專業技術服務,在計量校準、可靠性與環境試驗、電磁兼容檢測等多個領域的技術能力及業務規模處于先進水平。

廣電計量的技術能力獲得了眾多國內外機構和組織的認可,通過了中國合格評定國家認可委員會認可(CNAS),獲得檢驗檢測機構資質認定(CMA)、農產品質量安全檢測機構(CATL)以及眾多政府和行業機構的認可資質,是“三品一標”檢測實驗室、全國土壤污染詳查推薦檢測實驗室、中國CB實驗室,出具的證書、報告具有公信力,可幫助客戶穩健開拓市場。

廣電計量構建了覆蓋全國的服務保障網絡,在國內建有23個計量檢測基地和50多家分子公司,實驗室總面積超過16萬平方米,配置國內外設備儀器30000多臺/套,搭建的全國一體化計量檢測與認證技術公共服務平臺,可迅速響應客戶需求,為客戶提供近距離、本地化的專業服務。

廣電計量打造了一支技術水平和服務意識俱佳的服務隊伍,現有員工4000多人,其中包括各領域專家和技術帶頭人50多人,博士后、博士33人,碩士近400人。

廣電計量建有技術研究院,在新能源汽車、軌道交通、無線通信等領域,先后主持編寫30多項計量測試標準及規程,承擔50多項國家、省部級等重點科研項目,獲得軟件著作權141項,積極推動了行業新技術的創新和產業化應用。

作為一家擁有高度社會責任感的國有企業,廣電計量以助推各區域經濟高質量發展、助力企業品質提升為己任。目前,廣電計量的服務能力覆蓋汽車、航空、軌道交通、船舶、通信、電力、電子電器、食品、環保、農業、醫療、石化等領域,憑借專業的計量檢測技術之力,廣電計量可幫助各行業產業鏈上下游客戶提升自身競爭力,實現產品全壽命周期的質量管控。

在品質決勝未來的發展新時代,廣電計量將繼續秉持科學、公正、準確、快捷、周到的服務理念,為高質量發展傳遞信任,為建設“和諧美麗”中國保駕護航!

 

 

 

 

環保監測,土壤檢測,水質檢測,噪音檢測,三廢檢測,計量校準,環境可靠性測試,化學材料檢測
加工定制 服務區域 全國
服務周期 常規3-5天 服務類型 元器件篩選及失效分析
服務資質 CMA/CNAS認可 證書報告 中英文電子/紙質報告
增值服務 可加急檢測 是否可定制
是否有發票
雙束掃描電子顯微鏡(DB-FIB)是將聚焦離子束和掃描電子束集成在一臺顯微鏡上,再加裝氣體注入系統(GIS)和納米機械手等配件,從而實現刻蝕、材料沉積、微納加工等許多功能的儀器。廣電計量雙束掃描電子顯微鏡檢測CMA/CNAS認可能提供一站式雙束掃描電子顯微鏡檢測服務。
雙束掃描電子顯微鏡檢測CMA/CNAS認可 產品信息

雙束掃描電子顯微鏡檢測CMA/CNAS認可服務內容

廣電計量的DB-FIB均配備了納米機械手,氣體注入系統(GIS)和能譜EDX,能夠滿足各種基本和高階的半導體失效分析需求。還將持續不斷地投入先進電子顯微分析設備,不斷提升和擴充半導體失效分析相關能力,為客戶提供細致且全面深入的失效分析解決方案。


服務范圍

目前DB-FIB被廣泛應用于陶瓷材料、高分子、金屬材料、生物、半導體、地質學等領域的研究和相關產品檢測。


檢測標準

廣電計量執行:國家標準(GB/T)、國家汽車行業標準(QC/T)、國際標準(ISO)、以及國內外各大汽車主機廠標準。


測試項目

1、定點截面加工

2、TEM樣品成像分析

3、選擇性刻蝕或增強刻蝕檢驗

4、金屬材料沉積和絕緣層沉積測試


檢測資質

CNAS、CMA


檢測周期

常規5-7個工作日


雙束掃描電子顯微鏡檢測CMA/CNAS認可服務背景

著半導體電子器件及集成電路技術的飛速發展,器件及電路結構越來越復雜,這對微電子芯片工藝診斷、失效分析、微納加工的要求也越來越高。FIB雙束掃描電鏡所具備的強大的精細加工和微觀分析功能,使其廣泛應用于微電子設計和制造領域。

 FIB雙束掃描電鏡是指同時具有聚焦離子束(FocusedIonBeam,FIB)和掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope,SEM)功能的儀器。它可以實現SEM實時觀測FIB微加工過程的功能,把電子束高空間分辨率和離子束精細加工的優勢集于一身。其中,FIB是將液態金屬離子源產生的離子束經過加速,再聚焦于樣品表面產生二次電子信號形成電子像,或強電流離子束對樣品表面刻蝕,進行微納形貌加工,通常是結合物理濺射和化學氣體反應,有選擇性的刻蝕或者沉積金屬和絕緣層。


我們的優勢

廣電計量聚焦集成電路失效分析技術,擁有專家團隊及目前市場上先進的Ga-FIB系列設備,可為客戶提供完整的失效分析檢測服務,幫助制造商快速準確地定位失效,找到失效根源。同時,我們可針對客?的研發需求,提供不同應?下的失效分析咨詢、協助客戶開展實驗規劃、以及分析測試服務,如配合客戶開展NPI階段驗證,在量產階段(MP)協助客戶完成批次性失效分析。


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