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廣電計量檢測集團股份有限公司

JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱北京培科創(chuàng)新技術(shù)有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2023/2/24 13:17:37
  • 訪問次數(shù)322
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北京培科創(chuàng)新技術(shù)有限公司

       培科創(chuàng)新是一家專注于科學研究及工業(yè)應用的儀器渠道商和系統(tǒng)解決方案提供商,我們?yōu)楦咝!⒖蒲性核⑵髽I(yè)等各類客戶提供全面的儀器設備解決方案。公司成立于2012年,總部設在北京,在上海、深圳、沈陽等地設有多個辦事處。
      培科創(chuàng)新,與多家儀器制造商建立了良好的戰(zhàn)略合作關系,不斷優(yōu)化提升的公司自身營運和服務質(zhì)量,致力于向用戶提供國際的產(chǎn)品、化的解決方案和高品質(zhì)的專業(yè)服務,承擔著科技產(chǎn)業(yè)助推器的責任,服務并推動科學研究和科技產(chǎn)業(yè)的發(fā)展。

       培科創(chuàng)新,秉承高度負責和誠信的原則展開業(yè)務,努力營造員工和客戶之間互相尊重、坦誠溝通、高效互動的健康環(huán)境。我們了解客戶的實際需求,并提供合理優(yōu)質(zhì)的解決方案,并盡力滿足客戶的近期和長期需求。培科在客戶的關注和員工們的努力中不斷進步,擁有遍布全國的營銷渠道和服務網(wǎng)絡、職業(yè)化的技術(shù)服務團隊。

       優(yōu)秀的員工、科學的管理、高效的營運、便捷的信息網(wǎng)絡、雄厚的資金、多年的行業(yè)經(jīng)驗和*的經(jīng)營理念,是我們服務于客戶的基礎和保證。

 

 

以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡,不僅提高了空間分辨率和分析性能,還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑,易用性強,外觀設計精煉,能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗
JEM-F200 場發(fā)射透射電子顯微鏡 產(chǎn)品信息

 

·以節(jié)能環(huán)保、減排低碳為理念開發(fā)的JEM-F200場發(fā)射透射電子顯微鏡,不僅提高了空間分辨率和分析性能,還采用了新的操作系統(tǒng)可滿足多種使用途徑,易用性強,外觀設計精煉,能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。

·外觀設計精煉

·精煉的外型,全新的視覺感受。
為分析型電鏡全新設計的GUI,使操作更加直觀方便。
JEOL長年積累的豐富經(jīng)驗在設計上得到了充分的體現(xiàn),與舊機型相比,電鏡的機械性和電氣穩(wěn)定性都得到了很大的提高。

·四級聚光鏡系統(tǒng)

·現(xiàn)在的電子顯微鏡需要支持范圍廣泛的成像技術(shù)--- 從明場/暗場的TEM成像到使用各種檢測器的STEM技術(shù)。 該設備采用新型四級聚光鏡照射光學系統(tǒng)-“Quad-Lens condenser system”,通過分別控制電子束強度和匯聚角,能滿足各種研究的需求。

·掃描系統(tǒng)

·JEM-F200可以實現(xiàn)大視野的STEM-EELS分析,該設備在常規(guī)的照明系統(tǒng)的電子束掃描功能之上,增加了新的掃描系統(tǒng)-“Advanced Scan System” 即成像系統(tǒng)的電子束掃描功能(選配)。

·皮米樣品臺驅(qū)動

·JEM-F200 采用能以皮米級步長移動樣品臺的Pico stage drive(不用壓電驅(qū)動),能在寬動態(tài)范圍移動視野-從樣品的整個柵網(wǎng)視野移動到原子級圖像視野移動都能進行。

·SpecPorter(自動插入和拔出樣品桿的裝置)

·插入和拔出樣品桿,對電鏡初學者來說一直是高難度的操作。 JEM-F200配備的SpecPorter,即使新手也能輕松掌握,將樣品桿安裝在的位置上,只用一個按鈕即能安全地插入或拔出。

·改進的冷場發(fā)射電子槍

·JEM-F200能安裝高穩(wěn)定性、高亮度和高能量分辨率的冷場發(fā)射電子槍(選配),該槍的利用可以進行EELS化學結(jié)合狀態(tài)分析,高亮度的電子束縮短了分析時間,并且還降低了來自光源的色差,實現(xiàn)了高分辨率的觀察。

·雙能譜(SDD)

·JEM-F200能同時安裝兩個大口徑、分析靈敏度高的硅漂移檢測器(SDD)(選配件)。 憑借更高的靈敏度,EDS分析速度更快,對樣品的損傷更小。

·環(huán)保節(jié)能

·JEM-F200是個標配了ECO模式的透射電子顯微鏡。ECO模式系統(tǒng)能將能源消耗降低到正常模式時的1/5,可以在裝置不運行時,以最小的能耗保持著電鏡的條件。該設備具有排程功能,能在的時間將電鏡從ECO模式恢復到工作狀態(tài)。

 

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分辨率

TEM點分辨率

0.19 nm

0.23 nm

STEM-HAADF 像

0.14 nm @冷場槍

0.16 nm @冷場槍

0.16 nm @熱場槍

0.19 nm @熱場槍

加速電壓

200 , 80 kV

200 , 80 kV

主要選配件

能譜儀(EDS)、電子能量損失譜儀(EELS)、CCD相機、TEM/STEM斷層掃描系統(tǒng)

 

15700106413
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