半導電性粉體電阻率測試系統代替三菱化學MCP-PD51
半導電性粉體電阻率測試系統代替三菱化學MCP-PD51
| 品名稱： | 粉體阻抗測定系統 MCP-PD51 |
| 特色： | ﹢用于研究開發、質量管理線，執行粉體之物性管理 ﹢與阻抗率計Loresta-GP,Hiresta-UP連接，以測定廣范圍之粉體之低阻抗、高阻抗 ﹢樣品的交換、清掃簡單、可采一觸式著離探頭 ﹢各種粉體的形狀，粒徑分布之不同依壓力依存性把握其阻抗率及壓縮容積 ﹢測定及數據、備有達執行圖形化之軟件以供選購 |
| 測定對象： | 金屬粉、碳粉類、陶磁粉…等導電性粉體 |
阻性粉末材料研發及品質控制
一、 eLiPMS-2000plus 粉末電阻率測試系統安裝的現場條件：
1) 主體部分: 約 W340*D270*H630mm（不含包括展開搬運手柄及 MCP-T700 部分尺寸）；
2) 安裝空間： 需大于 W1500*D700mm 的臺面(考慮電腦及操作的空間)；
3) 工作臺承載： 預備承載大于 70kg 工作臺；
4) 電源：220V/50Hz/500VA，標準專用地線。需大于 3 個電源插座孔位。
二、 eLiPMS-2000plus 粉體電阻率測試系統組成、功能、性能表： 1、產品綜述及特點：
1) 內置的精密四探針探頭模腔組件及精密荷重測力傳感器單元，施加壓力 30KN，約 95MPa； 在壓力范圍內可設置任意壓力點進行測試分析。一鍵啟動，自動進行加壓、測試、釋放。
2) 簡易操作軟件界面，可設置不同壓力點及保壓時間（保壓時間到再測試），自動測量壓實下粉 末之電阻、電阻率、電導率、厚度、壓強、顆粒壓實密度特性等參數。
3) 系統通過與三菱化學 LORESTA-GX(MCP-T700)高精度四探針儀連接，可測試寬范圍之粉體阻 抗特征。 電阻測試范圍：0.001*10-4~9.999*107 Ω； 電阻率=Ω*RCF*t（RCF 為糾正因子，t 為厚度單位 cm）
4) 的探針單元，高精度四探針測試原理，消除樣品與探頭及引線所引起的誤差。 也可以裁剪φ20mm 的正負電極片樣品來測試電池極片在不同壓力下的電阻變化； 或者單獨使用 MCP-T700 及其標配探頭或選配探頭來測試片材，所謂多用途。
2、應用范圍： 阻性粉末材料研發及品質控制。
3、測試領域： 碳 粉--- 充電電池的電極材料、電子材料（電容器，電阻等）、活性炭、焦、石墨、碳黑色、
碳纖維納米碳等。 金屬粉末--- 電池的電極材料、薄膜材料（銅粉末、ITO 粉末等等）、導電膏、
導電油漆和涂料、綠 色接觸材料等。 其它粉末--- 墨粉和相關的粉體/磁性材料如鐵素體、汽車配件等材料。
