X熒光光譜儀EDX8000的技術參數:

1.       分析精度: 0.05%

2.       分析含量范圍：1PPM-99.99%

3.       測量元素：從硫至鈾等75種元素

4.       測量對象：

粉末、固體、液體；

分析電鍍溶液中金屬離子濃度；

可分析10層以上的鍍層；

5.       測試鍍層至0.005um

6.       步進最小距離：0.01mm

7.       測量時間：60~300秒

8.       工作溫度：15~30°C

9.       相對濕度：< 70%

10.    重量：30KG

11.    工作電壓：AC 110/220V

X熒光光譜儀EDX8000的配置：

1.       單樣品腔計

2.       算機、噴墨打印機

3.       硅針半導體探測器

4.       放大電路

5.       高低壓電源

6.       X光管

7.       雙

8.       50至100倍物體放大