性能指標

1. X射線管 4kW薄窗，Rh靶
2. 分光器 10晶體可交換，5種狹縫可交換，高次線輪廓功能， 超高速分析功能
3. 掃描速度 300°/min
4. 檢測元素范圍 9F-92U 
5. 檢測濃度范圍 0.0001%-99%
6. 局部分析功能 分析直徑500μm
7. 成像功能 表示直徑250μm

主要應用

1. X射線熒光光譜儀具有非破壞性、快速、精度高、定性及定量準確等優點，是原子吸收、ICP等儀器強有力的補充。
2. X射線熒光光譜儀廣泛應用于鋼鐵、有色、石化、地質、玻璃、電子、納米材料等材料的化學元素成分快速分析  

樣品要求

1. 樣品有足夠的代表性
2. 試樣在Ｘ射線照射及真空條件下應該穩定、不變形、不引起化學變化
3. 固體試樣均勻，表面平整、光潔、無裂紋，無污染
4. 尺寸要求（mm） 大小：10×10～45×45；
5. 厚度：金屬 陶瓷 1～20、塑料等有機質基體 5～20
6. 粉末（1）壓片法 樣品均勻、粒度>200目 樣品量>5g ? 樣品需干燥處理  壓片成形性較好 （2）熔片法樣品均勻、粒度>200目  樣品量（0.5g-2g） 硫化物、金屬單質樣品需特殊注明 

儀器說明

1. 主要應用： 可應用于物理、化學、地質地理、環保、冶金、材料等領域中的成份分析以及工礦企業質量監控
2. 能對固體、粉末、薄膜以及納米材料中的元素進行定性定量分析 ? 多層鍍膜的每層元素定性定量分析，膜厚測定
3. 樣品微區分析 主要附件：  LiF（200），Ge，PET，TAP， SX- 88，SX-98，SX-76， LiF（220）8塊分光晶體，FPC、SC檢測器；微區刻度尺 振動磨、壓樣機、熔融爐
4. 主要特點： 可以實現樣品的無損檢測 在沒有標樣的情況下對樣品進行全元素（9F-92U）分析樣品處理相對簡單峰背比較高，分析靈敏度高.