顯微領(lǐng)域的高精度檢測(cè)
通過(guò)采用新開(kāi)發(fā)的多毛細(xì)管，以及對(duì)探測(cè)器的優(yōu)化，在實(shí)現(xiàn)照射半徑等同于舊有型號(hào)FT9500X為30 μm（設(shè)想FWHM： 17 μm）的基礎(chǔ)上，進(jìn)一步將處理能力提高到了2倍以上。
產(chǎn)品陣容適應(yīng)各類檢測(cè)樣本
針對(duì)檢測(cè)樣本的不同種類，可在下列3種型號(hào)中進(jìn)行選擇
測(cè)量引線架、連接器等各類電子元器件的微型部件、超薄薄膜的型號(hào)
能夠處理尺寸為600 mm×600 mm的大型印刷電路板的大型印刷電路板用型號(hào)
適合對(duì)陶瓷芯片電極部分中，過(guò)去難以同時(shí)測(cè)量的Sn/Ni兩層進(jìn)行高能測(cè)量的型號(hào)
兼顧易操作性與安全性
放大了開(kāi)口，同時(shí)樣本室的門(mén)也可單手輕松開(kāi)閉。從而提高了取出、放入檢測(cè)樣本的操作簡(jiǎn)便性，并且該密封結(jié)構(gòu)也大大減少了X射線泄漏的風(fēng)險(xiǎn)，讓用戶放心使用。
檢測(cè)部位可見(jiàn)
通過(guò)設(shè)置大型觀察窗、修改部件布局，使得樣本室門(mén)在關(guān)閉狀態(tài)下亦可方便地觀察檢測(cè)部位。
清晰的樣本圖像
使用了分辨率比以往更高的樣本觀察攝像頭，采用全數(shù)碼變焦，從而消除位置偏差，可以清晰地觀察數(shù)十μm的微小樣本。
另外，亦采用LED作為樣本觀察燈，無(wú)需像以往的機(jī)型那樣對(duì)燈泡進(jìn)行更換。
新GUI
?將各類檢測(cè)方法、檢測(cè)樣本都以應(yīng)用程序圖標(biāo)的形式進(jìn)行了登記。圖標(biāo)皆為檢測(cè)樣本的照片、多層膜的圖示等，因此登記、整理起來(lái)就很方便，從而使得用戶可以不走彎路，直接進(jìn)行檢測(cè)。
?使用檢測(cè)向?qū)Т翱趤?lái)指導(dǎo)操作。通過(guò)與檢測(cè)畫(huà)面聯(lián)動(dòng)，逐步引導(dǎo)用戶執(zhí)行當(dāng)前所需進(jìn)行的工作。
FT150系列參數(shù)：
| FT150 | FT150L | FT150H | |
| 測(cè)量元素 | AL（Z＝13）～U（Z＝92） | AL（Z＝13）～U（Z＝92） | AL（Z＝13）～U（Z＝92） |
| X射線管 | Mo靶材 | ← | W靶材 |
| 管電壓：45KV管電流：1mA以下 | ← | ← | |
| 檢測(cè)器 | Si半導(dǎo)體檢測(cè)器（SDD） | ← | ← |
| 照射徑 | Ф：30μm (FWHM:17μm) | ← | Ф：35μm (FWHM:20μm) |
| 樣品觀察 | CCD攝像頭 | ← | |
| 樣品尺寸 | 400mm×300mm×100mm | 600mm×600mm×20mm | 400mm×300mm×100mm |
| 樣品重量 | 10Kg | ← | ← |
| 應(yīng)用程序 | 定性分析 | ← | ← |
| 薄膜檢量線（單層、2層、2成分合金單層膜） | ← | ← | |
| 薄膜FP法（最多可測(cè)量5層、10個(gè)元素）等 | ← | ← | |
| 報(bào)告功能 | Microsoft Word/Excel | ← | ← |
| 電源 | AC100-240V | ← | ← |
| 儀器尺寸 | 930mm×900mm×710mm | 1030mm×1200mm×710mm | 930mm×900mm×710mm |
| 儀器重量 | 約160Kg | 約170Kg | 約160Kg |
