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| XTU-4C X射線鍍層測厚儀性能優勢 |
| 下照式設計 | 快速方便的定位各種形狀的樣品，滿足大部分測試所需。 |
| 無損變焦檢測 | 擁有手動變焦功能，可對各種異形凹槽件進行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm。 |
| 微聚焦射線裝置 | 可測試各微小的部件，zui小檢測面積可達0.002mm²。 |
| 高效率的接收器 | 在檢測0.01mm²以下的樣品時，幾秒鐘也可達到穩定性。 |
| 精密微型滑軌 | 精密的手動移動平臺，快速精準定位所需檢測的樣品。 |
| EFP*算法軟件 | 可檢測單鍍層，多鍍層，多元合金，甚至對于同種元素在不同層的厚度檢測也能分析，包括輕金屬鍍層，非金屬鍍層，達克羅，Nip鍍層測試，包括Ni與P的比例也均可檢測。 |
| 準直器和濾光片 | 多種準直器和濾光片電動切換，滿足各種測試方式的應用。 |
| 新一代高壓電源和X光管 | 性能穩定可靠，高達50W的功率實現更高的測試效率。 |
| 高效的散熱系統 | 對流通風過濾式風冷，儀器即便全天候開啟，都可保持恒溫恒效。 |
| 防護裝置 | 恒壓恒流快門式光閘，擁有高壓電源緊急自鎖功能，帶給您的防護。 |
XTU-4C X射線鍍層測厚儀儀器規格
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| 外形尺寸 | 550mm*480mm*470mm（長*寬*高） |
| 樣品倉尺寸 | 500mm*360mm*215mm（長*寬*高） |
| 儀器重量 | 45KG |
| 供電電源 | 交流220±5V |
| Zui大功率 | 330W |
| 環境溫度 | 15℃-30℃ |
| 環境相對濕度 | ≤70% |
XTU-4C X射線鍍層測厚儀技術參數
| 測量元素范圍 | CI(17)-U(92) |
| 涂鍍層分析范圍 | 各種元素及有機物 |
| 分析軟件 | EFP，可同時分析23層鍍層，24種元素，不同層有相同元素和有機物厚度也可分析 |
| 測試程式添加 | 1862條測試程式免費提供，也可編輯新程式 |
| 軟件操作 | 人性化封閉軟件，自動提示校正和步驟，避免操作錯誤 |
| X射線裝置 | 升壓發射一體高分子聚合式W靶微聚焦加強型射線管 |
| 接收器 | 日本東芝正比計數管，窗口面積≥150mm² |
| 射線準直系統 | 垂直光路交換裝置搭配黃金準直器 |
| 視頻觀測光路系統 | 垂直光路交換裝置搭載100mm變焦鏡頭 |
| 測樣讀取開啟方式 | 恒壓恒流快門式光閘 |
| 濾光片 | 鋁、無、鎳 |
| 準直器 | ø0.05mm；ø0.1mm；ø0.2mm；ø0.5mm；四準直器自動切換 |
| Zui近測距光斑擴散度 | 10% |
| Zui小測量面積 | 約0.002mm² |
| 測量距離 | 具有距離補償功能，可改變測量距離，能測量凹凸異形樣品，變焦距離0-30mm（特殊要求可以升級到90mm） |
| 樣品觀察 | 1/2.5彩色CCD，全局快門，有效像素：1280*960，變焦功能 |
| 對焦方式 | 高敏感鏡頭（無需增加其他輔助傳感器），手動對焦 |
| 放大倍數 | 光學38-46X，數字放大40-200倍 |
| 樣品臺尺寸 | 500mm*360mm |
| 樣品可放置區域 | 480mm*320mm*205mm（C型開槽設計，特殊測試時可以超出區域放置樣品） |
| 外部尺寸 | 540mm*430mm*475mm |
| 移動方式 | 高精密XY手動滑軌 |
| 可移動范圍 | 40mm*50mm |
| 電氣參數 | 電源：交流220V 50HZ 功耗：zui大120W（不包括計算機） |
| 冷卻系統 | 對流通道過濾式風冷 |
| 保養升級模塊 | 軟硬件模塊化 |
| 環境要求 | 使用時溫度：10℃-40℃ 存儲和運輸時溫度：0℃-50℃ 空氣相對濕度：≤80% |
| 重量 | 約45KG |
| 隨機標準片 | 十二元素片、Ni/Fe、Au/Ni/Cu |
| 其他附件 | 電腦一套、噴墨打印機、附件箱 |
