上照射式 X射線熒光光譜儀PrimusII是理學公司奉獻的上照射式X射線熒光光譜儀，因采用了新型分光晶體，使輕元素分析(如C,B)靈敏度大幅度提高，超輕元素對應X射線光管,大功率4千瓦，薄窗,，適合輕元素分析 48樣品臺,節省空間，1次濾波片，可去掉來自光管的特征譜線,減低背景，雙真空，雙泵設計，節省抽真空時間.防粉塵附件，可防止粉末掉入真空泵，微區分析可達500，適合少量樣品分析，軟件在原有的SQX軟件基礎上進一步完善,采用對話方式，進行EZ掃描，應用模板可將各種測試條件,以及前處理順序設置其中，FP無標樣分析，是理學公司多年來總結出的一套很好的分析方法,不設定測試成分也能準確分析，流程條，按順序顯示測試處理內容，標準樣品,操作手冊全中文提供,方便用戶PAS自動調整，芯線自動清洗，給用戶帶來方便。

主要特點：
1、輕元素（B,C）靈敏度大幅度提高；
2、高強度的分光晶體RX-25,RX-61,RX-75；
3、重金屬的高靈敏度分析-采用型光學系統；
4、高靈敏度微區分析-Mapping位置分辨率100µm；
5、優良的無標樣分析的SQX軟件；
6、儀器設計充分考慮周邊環境-節能、省空間。

應用軟件包：
1、設定樣品（標準樣品、漂移校正樣品）。
2、CD-ROM（測試條件、校正常數等）、操作手冊全盤提供。

其它特點的軟件功能：
1、SQX分析功能；
2、Mapping數據庫；
3、材質辨別；
4、理論重疊校正；
5、自動程序運轉；
6、校正投入量計算。

流程條：
測試、處理流程顯示。根據流程條內容，擊鼠標鍵，便可按順序進行所需的測試、處理。

散射線FP法：
不需設定非測試成分，也可以準確分析。散射線強度計算，可以考慮幾何學效果，沒有樣品量信息也可準確分析。不易加壓成形的樣品以及油狀樣品，使用SQX軟件，可以簡單、準確地進行分析。

應用模板：
各種測試條件以及樣品前處理順序均設置其中。

定點分析
100µm的Mapping分辨率。可在CCD圖像
上點、區域、線。定點最小直徑500µm。

采用r-θ樣品臺，避免1次X射線的照射面、以及分光晶體的反射強度的干擾，可得到靈敏度分析結果。 (無 r-θ 樣品臺)
節能、節省空間
節能功能（自動減少X射線光管輸出） 減少冷卻水量 5L/min（水溫30?以下）
PR氣體流量減少（5mL/min）
省空間
采用聯體設計，設置面積只占傳統儀器70%的空間。
便于維護
PAS脈沖高度自動調整 F-PC芯線自動清洗

技術參數：

硬件：
對應超輕元素的X射線光管
采用4kW、30µm薄窗X射線光管，可高靈敏度測試超輕元素。
采用新型光學系統
采用新型分光晶體，與第二代儀器分光晶體相比，大幅度提高了靈敏度。

48樣品交換器
實現平臺式共享化，最多可放置48個樣品。
多樣品交換器實現了省空間。

1次X射線濾光片
除去X射線光管的特征X射線光譜，
在減低背景干擾方面發揮威力。

雙泵、雙真空系統
采用雙真空系統（樣品室/預抽真空室）。
防止粉末樣品的細微粉塵混入光學系統
的結構設計，樣品交換實現更高效率。

粉末附件
電磁閥真空密封、防止細微粉塵進入
真空泵內。

上照射式 X射線熒光光譜儀PrimusII