產品簡介：SE-VE 是一款、快速測量光譜橢偏儀，緊湊集成設計，使用簡便，可一鍵快速測量表征各式光學薄膜膜厚以及光學常數等信息。高性價比光學橢偏測量解決方案，緊湊集成化設計，用戶操作體驗，一鍵快速測量分析，人機交互設計，使用便捷，豐富的數據庫和幾何結構模型庫，保證強大數據分析能力，廣泛應用于科研/企業中各種單層到多層薄膜膜厚以及光學常數等快速表征分析。
產品型號 | SE-VE光譜橢偏儀 | ||
主要特點 | 1、采用高性能進口復合光源，光譜覆蓋可見到近紅外范圍 (400-800nm) 2、高精度旋轉補償器調制、PCRSA配置，實現Psi/Delta光譜數據高速采集 3、數百種材料數據庫、多種算法模型庫，涵蓋了目前絕大部分的光電材料 | ||
技術參數 | 1、自動化程度：固定角 2、應用定位：經濟型 3、基本功能：Psi/Delta、N/C/S、R等光譜 4、分析光譜：400-800nm 5、單次測量時間：0.5-5s 6、重復性測量精度：0.05nm 7、光斑大小：大光斑1-3mm 8、入射角調節方式：固定角 9、入射角范圍：65° 10、找焦方式：手動找焦 11、Mapping行程：不支持 12、支持樣件尺寸：大至160mm | ||
可選配件 | 1 | 溫控臺 |
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2 | 真空泵 |
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3 | 透射吸附組件 |
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