美國Electro-Tech Systems, Inc.公司的ETS 4406 （406D）靜電衰減測試儀，采用充電法測試材料靜電衰減性能, 將被測試材料固定在兩試樣夾之間, 利用高壓直流電源通過試樣夾給樣品材料充電, 當(dāng)樣品材料的電位不再上升后, 試樣夾接地, 通過正對樣品材料中心的非接觸式靜電電位計(jì)測量表面電位的衰減情況.
該靜電衰減性能測試儀（進(jìn)口）符合以下標(biāo)準(zhǔn):
美國無防布靜電衰減測試標(biāo)準(zhǔn)IST40.2(01)
美國聯(lián)邦標(biāo)準(zhǔn)FED-STD-101C
美國電子工業(yè)聯(lián)合會標(biāo)準(zhǔn)EIA-541
美國消防協(xié)會NFPA99標(biāo)準(zhǔn)
英國BS7506標(biāo)準(zhǔn)
中國科研一次性*標(biāo)準(zhǔn)GB 19082
靜電衰減性能測試儀（進(jìn)口）主要指標(biāo):
測試材料 按照 FTM Std. 101C, Method 4046
合乎靜電衰減要求：MIL-PRF-81705d,EIA-541&NFPA99
手動和自動設(shè)置
具備多種衰減比例選擇：50％。10％，1％
0.01 秒計(jì)時(shí)分辯率
系統(tǒng)自身測試設(shè)置
特殊電極應(yīng)對特定檢測
充電電壓： 0－5.5千伏
計(jì)時(shí)器量程：0－99.99s
顯示：指針式充電電壓表（左），指針式充電電壓表（右），數(shù)顯計(jì)時(shí)器（中），彩色led燈指示各個(gè)操作進(jìn)程。
自動測式次數(shù)1－9次
測試間隔時(shí)間： 1－25 秒
標(biāo)準(zhǔn)配置:
4406/406d 測試主機(jī)
法拉第測試籠容器
條型夾具／樣品支架
STM-2驗(yàn)證摸塊
磁型固定電極
